第1021章 小时连续运行考验[2/2页]
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nbsp;nbsp参数变化:βnbsp值累计衰减nbsp10.3%,平均降至nbsp58.3,其中nbspQ3nbsp降至nbsp55(衰减nbsp15.4%,接近合格下限nbsp52);工作电流增至nbsp240mA(因晶体管内阻下降);设备表面温度升至nbsp45℃,需增加通风频率;
nbsp加密测试:每nbsp3nbsp小时输入nbsp1nbsp组nbsp30nbsp字符长明码,共nbsp73nbsp组,出现nbsp3nbsp次错误:2nbsp次为字符传输延迟(因导线老化导致信号衰减),1nbsp次为晶体管nbspQ8nbsp参数漂移导致的逻辑错误,更换nbspQ8nbsp后(35nbsp分钟完成)恢复正常;
nbsp极限验证:第nbsp700nbsp小时,人为断开主供电nbsp3nbsp秒(模拟突发断电),备用电源立即切换,加密进程未中断,仅丢失最后nbsp1nbsp个字符,重新输入后正常。
nbsp三、数据统计与错误分析:手写台账中的性能真相
nbsp【历史实物:720nbsp小时运行台账原件nbsp——30nbsp本方格本上写满密密麻麻的字迹,每页都有nbsp“操作人”“记录人”nbsp签字;附页贴着nbsp20nbsp张示波器波形照片,标注nbsp“100h”“300h”“720h”nbsp的对比;手绘的nbspβnbsp值变化曲线用红笔标注nbsp“衰减临界点”。画面特写:错误统计表格用铅笔填写,“总测试组数nbsp373,错误nbsp5nbsp次,错误率
nbsp核心数据统计
nbsp运行稳定性:720nbsp小时内无整机宕机,供电中断nbsp0nbsp次(备用电源切换成功nbsp2nbsp次),最长连续无错误运行时长nbsp210nbsp小时;
nbsp加密错误率:累计完成加密解密测试nbsp373nbsp组(10nbsp字符nbsp100nbsp组、20nbsp字符nbsp200nbsp组、30nbsp字符nbsp73nbsp组),出现错误nbsp5nbsp次,总错误率远低于设计允许的nbsp5%nbsp上限;
nbsp器件衰减:12nbsp只晶体管nbspβnbsp值平均衰减nbsp10.3%,均保持在nbsp52nbsp以上;电解电容容量平均衰减nbsp9.5%,焊点氧化率≤5%。
nbsp分析结论:5nbsp次错误中,3nbsp次为可通过简单维护避免的nbsp“接触性问题”(氧化、老化),2nbsp次为器件自然衰减导致的nbsp“性能问题”,无设计缺陷引发的系统性错误。
nbsp性能趋势判断
nbsp衰减规律:晶体管nbspβnbsp值在前nbsp100nbsp小时衰减较快(3.1%),之后进入平稳期(每nbsp100nbsp小时衰减约nbsp0.8%),预计nbsp1000nbsp小时时仍能保持在nbsp55nbsp以上,满足长期使用需求;
nbsp故障特征:80%nbsp的故障发生在nbsp“值守交接时段”nbsp前后,因操作衔接不及时或参数核对疏漏导致,需优化交接流程;
nbsp耐受极限:设备可承受的最大参数波动为nbspβnbsp值衰减nbsp15%、电压波动超过此范围易出现错误。
nbsp四、考验结论与运维建议
nbsp【历史影像:测试总结会现场,6nbsp名值守技术员围坐,桌上摊开nbsp30nbsp本台账和参数曲线;负责人用红粉笔在黑板上写下nbsp“错误率达标”,众人鼓掌;最终形成的《720nbsp小时连续运行报告》上,盖有nbsp“电子工业部第十研究所测试专用章”。画外音:“30nbsp天的坚守证明,这台晶体管密码机具备长期野外运行的耐力,但要真正适应实战,还需在运维细节上再下功夫。”】
nbsp1.nbsp核心结论
nbsp运行达标:720nbsp小时连续加密解密测试中,错误率无整机宕机,核心器件性能稳定,满足《军事通信设备长时运行标准》(1973nbsp版)要求;
nbsp可靠性能:双电源备份、定期维护的模式有效,可应对供电故障和接触性问题;晶体管和电容的衰减规律可预测,便于提前更换;
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nbsp实战适配:错误处理平均耗时nbsp14nbsp分钟,符合野外nbsp“快速恢复”nbsp需求,建议批量生产时按此标准配置备件和工具。
nbsp2.nbsp运维优化建议
nbsp日常维护:建立nbsp“每nbsp100nbsp小时维护清单”——nbsp擦拭触点、测量晶体管参数、检查导线绝缘层,可将接触性错误减少nbsp60%;
nbsp备件配置:每台设备配备nbsp1nbsp套nbsp“应急备件包”(含nbsp5nbsp只nbspAnbsp级晶体管、3nbsp只电容、2mnbsp导线、酒精棉、烙铁),重量≤500g,便于野外携带;
nbsp值守规范:优化交接流程,要求交接时共同完成nbsp1nbsp组加密测试,确认设备状态后再签字,避免交接疏漏导致的故障。
nbsp3.nbsp量产改进建议
nbsp器件筛选:批量生产时对晶体管进行nbsp“100nbsp小时预老化测试”,剔除衰减超nbsp5%nbsp的器件,从源头降低错误率;
nbsp工艺改进:旋钮触点采用镀金处理(1973nbsp年军工级工艺),减少氧化;导线选用耐老化的氯丁橡胶绝缘层,延长使用寿命;
nbsp结构优化:在密码机侧面设计nbsp“维护窗口”,无需拆机即可更换晶体管和电容,将维护时间从nbsp35nbsp分钟缩短至nbsp15nbsp分钟。
nbsp历史补充与证据
nbsp标准依据:1973nbsp年《SJnbsp205173nbsp军用电子设备连续运行试验方法》规定,通信密码机连续运行nbsp720nbsp小时的错误率需≤5%,本测试结果nbsp达标;
nbsp仪器背景:XJ4318nbsp示波器在连续运行nbsp720nbsp小时后,波形显示偏差≤3%,符合nbsp1973nbsp年仪器稳定性标准;
nbsp档案支撑:中国电子科技集团第十研究所nbsp1973nbsp年《科研档案?720nbsp小时测试卷》(编号nbsp73042),包含完整台账、参数曲线、错误分析,现存于国家档案馆;
nbsp实战反馈:1974nbsp年西北边境通信部队试用报告显示,该密码机连续运行nbsp30nbsp天后错误率nbsp1.5%,与实验室测试结果基本一致,验证测试可靠性。
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